sid4 nir波前传感器
基于phasics四波横向剪切干涉专利技术的sid nir波前传感器波长范围覆盖1.5- 1.6μm，具有超高分辨率（160x120测量点）。确保其精确的波前测量。结构紧凑，很容易集成到一个光学台用于镜头测试或镜头校准。它也适用于光学表面测试。
                                                     
  sid4-nir                   光学器件测量                  自适应光学
特点：
由于其独特的专利技术，phasics的sid4-nir波前传感器具备以下特点：
1.高分辨率：160x120测量点
2.高数值孔径测量：无需转镜头
3.消色差：1.5-1.6μm
4.结构紧凑：易于集成于光学系统
应用：
sid4 nir主要应用镜头测试和光学系统校准。适用于所有的近红外光学，如用于电信领域或光谱和夜视设备。
镜头表征：实时提供mtf和畸变数据。结构紧凑，易于集成于试验台和生产线。
光学设备校准：它提供了一个非常准确的最小像差测量。
sid4 nir产品参数：
波长范围
1500 - 1600 nm
通光孔径
3.6 x 4.8 mm2
空间分辨率
29.6 µm
采样点（相位/强度）
160 x 120 (> 19 000   points)
相位相对灵敏度
< 11 nm rms
相位精度
15 nm rms
动态范围
~
采样频率
> 60 fps
实时分析频率
>   10 fps (full resolution)
数据接口
giga ethernet
尺寸(w x h x l)
44 x 33 x 57.5 mm
重量
~250 g
相关产品：sid4 , 波前分析仪 , 波前传感器 , 相位测量 , sid4-nir

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上海屹持光电技术有限公司
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